拉曼-SEM使您能夠在一臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)全面地原位表征樣品性能。兩種技術(shù)的聯(lián)用重新定義了便捷、效率和生產(chǎn)力。 雷尼紹結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分分析儀 (SCA) 接口使掃描電鏡 (SEM) 具有了inVia的拉曼點(diǎn)測(cè)量和成像能力。 拉曼+SEM inVia和SCA接口提供了一種SEM內(nèi)部分析技術(shù)，既補(bǔ)充了以光學(xué)顯微鏡為基礎(chǔ)的拉曼光譜，又克服了X射線能量散射譜 (EDS) 作為傳統(tǒng)的SEM內(nèi)部分析技術(shù)的局限性。采用雷尼紹拉曼-SEM聯(lián)用系統(tǒng)，您將受益于定位共同點(diǎn)的形貌、元素、化學(xué)、物理和電子分析。 使用SEM生成樣品的高分辨圖像，并進(jìn)行元素分析。增加拉曼分析能力，以獲取化學(xué)信息和圖像。識(shí)別物質(zhì)和非金屬，即使當(dāng)它們具有相同的化學(xué)計(jì)量結(jié)果時(shí)也不例外。 SCA和inVia不僅可以測(cè)試?yán)庾V，還可以進(jìn)行光致發(fā)光 (PL) 和陰極射線發(fā)光 (CL) 光譜測(cè)試。 沖積物的X射線分析 沖積物的X射線分析 一套用于原位分析的聯(lián)用系統(tǒng) 使用一套聯(lián)用系統(tǒng)，可節(jié)省寶貴的時(shí)間。您無(wú)需在兩臺(tái)儀器之間移動(dòng)樣品，也不會(huì)分析錯(cuò)誤的樣品區(qū)域。 inVia和SEM可同時(shí)作為獨(dú)立系統(tǒng)使用，而不會(huì)影響兩者的任何性能。您將擁有一臺(tái)拉曼系統(tǒng)、一臺(tái)SEM系統(tǒng)和一套拉曼-SEM聯(lián)用系統(tǒng)。

• 分類

• X射線

• 專業(yè)應(yīng)用類型

• 用于分析

• 觀測(cè)技術(shù)

• 原位

• 配置

• 臺(tái)式

• 其他特性

• 高解析度, 光致發(fā)光

雷尼紹掃Renishaw Raman-SEM拉曼-掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)由英國(guó)雷尼紹公司(Renishaw) 為您提供，如您想了解更多關(guān)于雷尼紹掃Renishaw Raman-SEM拉曼-掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)報(bào)價(jià)、參數(shù)等信息 ，歡迎來(lái)電或留言咨詢。

注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。