| 產(chǎn)地類別：進(jìn)口 | 供應(yīng)商性質(zhì)：生產(chǎn)商 | 儀器種類：顯微共焦拉曼光譜 |
| 光譜重復(fù)性：<=0.1cm-1 | 最低波數(shù)：10cm-1 | 光譜范圍：100~4000cm-1 |
| 空間分辨率：XY~1um,Z~2um | 光譜分辨率：<=1cm-1 | 激發(fā)波長：顯微共焦拉曼光譜 |
隨著科研和材料制備技術(shù)的發(fā)展，對材料的表征手段的要求越來越高，科研人員希望一次性原位表征得到更多的樣品信息，聯(lián)用技術(shù)成為分析儀器發(fā)展的一大方向。雷尼紹inVia共焦顯微拉曼光譜儀經(jīng)過20多年的開發(fā)和優(yōu)化，憑借其優(yōu)異的品質(zhì)和卓越的性能，已經(jīng)成為市場上最可信賴的拉曼儀器。而憑借在精密機(jī)械和創(chuàng)新工程方面的豐富經(jīng)驗(yàn)，以及inVia靈活的設(shè)計(jì)，已經(jīng)實(shí)現(xiàn)拉曼技術(shù)與其他分析技術(shù)的結(jié)合，包括掃描電鏡（SEM）、原子力顯微鏡（AFM）、共聚焦顯微鏡（CLSM）等等。
聯(lián)用系統(tǒng)優(yōu)勢：
原位測量。無需在不同儀器之間移動(dòng)樣品，節(jié)約時(shí)間，保證正確的分析區(qū)域。
inVia和SEM可同時(shí)作為獨(dú)立系統(tǒng)使用，而不會影響兩者的任何性能。
得到豐富的樣品信息。使用SEM記錄樣品的高分辨圖像，并進(jìn)行元素分析。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。
還可進(jìn)行光致發(fā)光（PL）和陰極射線發(fā)光（CL）光譜測試。
雷尼紹SCA接口具有非常高的普適性，可以配備到您現(xiàn)有的SEM上，基本不需要對SEM進(jìn)行改裝。SCA可以安裝到所有主要供應(yīng)商提供的SEM上，包括：
Zeiss
FEI
TESCAN
JEOL
Hitachi
雷尼紹掃Renishaw Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng) 原位測量 由英國雷尼紹公司(Renishaw) 為您提供，如您想了解更多關(guān)于雷尼紹掃Renishaw Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng) 原位測量 報(bào)價(jià)、參數(shù)等信息 ，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。
