DD ISO/TS 13762:2001(2002)
顆粒大小分析 小角度X射線散射方法
Particle size analysis using small angle X-ray scattering
- 標準號
- DD ISO/TS 13762:2001(2002)
- 發(fā)布
- 2002年
- 總頁數(shù)
- 32頁
- 發(fā)布單位
- /
- 當前最新
- DD ISO/TS 13762:2001(2002)
-
標準名稱：顆粒大小分析 — 小角度X射線散射方法
適用范圍：
- 本技術(shù)規(guī)范適用于通過小角度X射線散射法進行顆粒大小分析。該方法主要用于測量超細粉末的粒度分布。
- 該技術(shù)規(guī)范涉及樣品制備、儀器設備選擇與校準、數(shù)據(jù)分析和結(jié)果表達等方面的技術(shù)要求。
- 本技術(shù)規(guī)范旨在為小角度X射線散射法提供一個初步的標準框架，以便在實際應用中積累經(jīng)驗和技術(shù)發(fā)展。