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牛津儀器為提高X射線熒光(XRF)分析高溫樣品時(shí)的可靠性,針對(duì)使用其X-MET8000系列手持式XRF光譜儀發(fā)布了獨(dú)特的解決方案。這款HEROTM耐熱保護(hù)窗口讓高達(dá)400oC的高溫樣品可以直接分析其合金元素,包括例如硅的輕元素。運(yùn)行檢測(cè)可盡量減少停機(jī)時(shí)間材料可靠性(PMI)鑒定有時(shí)要求檢測(cè)正在工作中...
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