亚洲不卡一区二区av,国产精品乱一区二区三区,另类亚洲综合区图片小说区,99人妻精品日韩欧美一区二区`

GJB 546-1988
電子元器件可靠性保證大綱

Reliability Guarantee Outline for Electronic Components

1996-12

標準號
GJB 546-1988
發(fā)布
1988年
發(fā)布單位
國家軍用標準-總裝備部
替代標準
GJB 546A-1996
當前最新
GJB 546B-2011
 
 

GJB 546-1988相似標準


推薦

電子元器件可靠性篩選(四)

  4 半導體器件篩選方案設(shè)計  半導體器件可以劃分為分立器件和集成電路兩大類。分立器件包括各種二極管、三極管、場效應管、可控硅、光電器件及特種器件; 集成電路包括雙極型電路、 ? MOS電路、厚膜電路、薄膜電路等器件。各種器件的失效模式和失效機理都有差異。不同的失效機理應采用不同的...

電子元器件可靠性篩選(三)

  3 幾種常用的篩選項目  3 。 1 高溫貯存  電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學變化所引起,它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后,化學反應速度大大加快,失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時暴露,予以剔除。  高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用,它能有效地剔除...

電子元器件可靠性篩選(二)

  在安排測試篩選先后次序時,有兩種方案:  a)方案1:將不產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在前面,將可以與其他失效模式產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面?! )方案2:將可以與其他失效模式產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在前面,將不產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面。  如果...

電子元器件可靠性篩選(一)

  本文簡述了電子元器件篩選的必要性,分析了電子元器件的篩選項目和應力條件的選擇原則,介紹了幾種常用的篩選項目和半導體的典型篩選方案設(shè)計?! ‰S著工業(yè)、軍事和民用等部門對電子產(chǎn)品的質(zhì)量要求日益提高,電子設(shè)備的可靠性問題受到了越來越廣泛的重視。對電子元器件進行篩選是提高電子設(shè)備可靠性的最有效...


誰引用了GJB 546-1988 更多引用





Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務業(yè)務經(jīng)營許可證:京ICP證110310號
頁面更新時間: 2025-07-08 17:41