ISO/CD TR 18392:2023
表面化學分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds

標準號

ISO/CD TR 18392:2023

發(fā)布

2023年

發(fā)布單位

國際標準化組織

當前最新

ISO/CD TR 18392:2023

 

 

介紹

本技術報告提供了在進行X射線光電子能譜（XPS）分析時確定樣品表面背景的方法和程序。通過這些方法，可以更準確地識別和量化化學成分及其狀態(tài)，從而提高實驗結果的可靠性和一致性。該報告詳細描述了如何獲取和處理背景信號，以減少干擾并增強數據解析能力。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

專題

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