ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 鍍層厚度的測(cè)量 X射線光譜法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ISO 3497:2000
- 發(fā)布
- 2000年
- 總頁數(shù)
- 24頁
- 中文版
- GB/T 16921-2005 (等同采用的中文版本)
- 發(fā)布單位
- 國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 當(dāng)前最新
- ISO 3497:2000
- 適用范圍
- 警告 本國際標(biāo)準(zhǔn)不涉及有關(guān)人員 X 射線防護(hù)的問題。 有關(guān)這一重要方面的信息，應(yīng)參考現(xiàn)行國際和國家標(biāo)準(zhǔn)以及當(dāng)?shù)胤ㄒ?guī)（如果存在）。 1 本國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用 X 射線光譜法測(cè)量金屬涂層厚度的方法。 2 本國際標(biāo)準(zhǔn)適用的測(cè)量方法基本上是測(cè)定單位面積質(zhì)量的方法。 利用涂層材料密度的知識(shí)，測(cè)量結(jié)果也可以表示為涂層的線性厚度。 3 測(cè)量方法允許同時(shí)測(cè)量最多三層的涂層系統(tǒng)，或同時(shí)測(cè)量最多三個(gè)組分的層的厚度和成分。 4 給定涂層材料的實(shí)際測(cè)量范圍很大程度上取決于待分析的特征 X 射線熒光的能量以及可接受的測(cè)量不確定度，并且可能因所使用的儀器系統(tǒng)和操作程序而異。
ISO 3497:2000 中可能用到的儀器設(shè)備
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