GB/T 20726-2006
半導(dǎo)體探測(cè)器X射線能譜儀通則
Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
GBT20726-2006, GB20726-2006
2016-09
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 20726-2006
- 別名
- GBT20726-2006, GB20726-2006
- 發(fā)布
- 2006年
- 總頁(yè)數(shù)
- 11頁(yè)
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 15632:2002 IDT
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 20726-2015
- 當(dāng)前最新
- GB/T 20726-2015
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表征以半導(dǎo)體探測(cè)器、前置放大器和信號(hào)處理系統(tǒng)為基本構(gòu)成的X射線能譜儀（EDS）特性最重要的量值。本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于國(guó)態(tài)電離作用原理的半導(dǎo)體探測(cè)器EDS。本標(biāo)準(zhǔn)只規(guī)定了與電子探針（EPMA）或掃描電鏡（SEM）聯(lián)用的此類(lèi)EDS的最低要求，至于如何實(shí)現(xiàn)分析則不在本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定范圍之內(nèi)。
GB/T 20726-2006 中可能用到的儀器設(shè)備
專(zhuān)題
GB/T 20726-2006相似標(biāo)準(zhǔn)
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