ONORM M 1114-1982
用接觸式（觸針）儀器測量表面粗糙度

Measurement of surface roughness with contact (Stylus) Instruments

標(biāo)準(zhǔn)號

ONORM M 1114-1982

發(fā)布

1982年

總頁數(shù)

12頁

發(fā)布單位

AT-ON

當(dāng)前最新

ONORM M 1114-1982

 

 

適用范圍

該“規(guī)范”包含粗糙度測量設(shè)備的用戶需要了解這些設(shè)備如何工作并解釋其結(jié)構(gòu)的定義。它可以用于所有技術(shù)生產(chǎn)的表面，只要它們可以用電筆設(shè)備進(jìn)行測試。1) 區(qū)分粗糙度和波紋度或其他形狀偏差尤為重要。該“NORM”專門處理使用高通濾波對這些參數(shù)進(jìn)行電氣分離（參見第 6 節(jié)）。

專題

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