ASTM E668-10
測定電子設備在輻射硬度試驗中的吸收劑量用熱致發(fā)光-劑量測定法(TLD)的標準應用規(guī)程

Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic Devices

被代替

ASTM E668-10 發(fā)布歷史

ASTM E668-10由美國材料與試驗協(xié)會 US-ASTM 發(fā)布于 2010。

ASTM E668-10 在中國標準分類中歸屬于: L04 基礎標準與通用方法，在國際標準分類中歸屬于: 31.020 電子元器件綜合。

ASTM E668-10 測定電子設備在輻射硬度試驗中的吸收劑量用熱致發(fā)光-劑量測定法(TLD)的標準應用規(guī)程的最新版本是哪一版？

最新版本是 ASTM E668-20 。

ASTM E668-10的歷代版本如下：

• 2020年 ASTM E668-20 用于確定電子設備輻射硬度測試中吸收劑量的熱釋光劑量法（TLD）系統(tǒng)的標準實踐
• 2013年 ASTM E668-13 測量電子器件輻射硬化試驗中吸收劑量的熱致發(fā)光劑量測量 (TLD) 系統(tǒng)應用的標準實施規(guī)程
• 2010年 ASTM E668-10 測定電子設備在輻射硬度試驗中的吸收劑量用熱致發(fā)光-劑量測定法(TLD)的標準應用規(guī)程
• 2005年 ASTM E668-05 電子器件輻射硬化試驗中測量吸收劑量用的熱致發(fā)光劑量測量(TLD)系統(tǒng)應用的標準實施規(guī)程
• 2000年 ASTM E668-00 運用熱發(fā)光放射量測定系統(tǒng)(TLD)在電子設備放射危害性試驗中測定吸收劑量的標準實施規(guī)范

材料中的吸收劑量是一個重要參數(shù)，它與暴露于電離輻射的電子元件和設備中產(chǎn)生的輻射效應相關。如果可以獲得源輻射場（即能譜和粒子注量）的知識，則可以計算該參數(shù)的合理估計。通常無法獲得有關輻射場的足夠詳細的信息。然而，在輻射測試設施中使用無源劑量計測量吸收劑量可以提供信息，從中可以推斷出感興趣材料中的吸收劑量。在某些規(guī)定條件下，TLD 非常適合執(zhí)行此類測量。注 28212；有關適用于本實踐中討論的輻射類型和能量以及吸收劑量率范圍的各種劑量測定方法的綜合討論，請參閱 ICRU 報告 14、17、21 和 34.1.1 本實踐涵蓋了使用熱釋光的程序劑量計 (TLD) 用于確定受電離輻射照射的材料中的吸收劑量。盡管該程序的某些要素具有更廣泛的應用，但值得關注的具體領域是電子設備的輻射硬度測試。本實踐適用于伽馬射線、X射線和能量為12至60 MeV的電子輻照材料吸收劑量的測量。具體的能量限制包含在描述程序的具體應用的適當部分中。所覆蓋的吸收劑量范圍約為 10−2 至 104 Gy（1 至 106 rad），吸收劑量率范圍約為 10−2 至 1010 Gy/s（1 至 1012 rad/s） s）。本實踐不包括經(jīng)受中子輻照的材料的吸收劑量和吸收劑量率測量。此外，這些程序中涉及電子輻照的部分主要用于零件測試。作為更大型組件（例如電子板或盒子）的一部分的設備測試可能需要本實踐范圍之外的技術。注18212；電子照射能量的上限和下限的目的是接近簡化劑量測定的極限情況。具體來說，指定的劑量測定方法要求達到以下三個限制條件：（a）一次電子的能量損失很小，（b）二次電子在劑量計內(nèi)大部分停止，（c）一次電子產(chǎn)生的軔致輻射電子大量損失。

1.2 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。

標準號

ASTM E668-10

發(fā)布

2010年

發(fā)布單位

美國材料與試驗協(xié)會

替代標準

ASTM E668-13

當前最新

ASTM E668-20

 

 

標準

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