GB/T 28894-2012
表面化學(xué)分析.分析前樣品的處理
Surface chemical analysis.Handing of specimens prior to analysis
GBT28894-2012, GB28894-2012
- 標準號
- GB/T 28894-2012
- 別名
- GBT28894-2012, GB28894-2012
- 發(fā)布
- 2012年
- 總頁數(shù)
- 11頁
- 采用標準
- ISO 18117:2009 IDT
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當前最新
- GB/T 28894-2012
- 引用標準
- GB/T 22461-2008 ISO 18116:2005
- 本體
- 樣品處理 污染控制 表面化學(xué)分析
- 適用范圍
- 本標準規(guī)定了表面化學(xué)分析樣品的處理和存放容器的要求。本標準適用于表面化學(xué)分析設(shè)備的用戶了解表面化學(xué)分析技術(shù)的特殊樣品處理要求，特別是俄歇電子能譜（AES）、二次離子質(zhì)譜（SIMS）和X射線光電子能譜（XPS或ESCA）。本標準也適用于對表面組成敏感的其他分析技術(shù)，如TXRF.對于特定的實例，特定的樣品，需要更加注意。
| 術(shù)語 | 描述 |
|---|---|
| 俄歇電子能譜 Auger Electron Spectroscopy (AES) | 一種用于分析材料表面元素組成的工具射線光電子能譜技術(shù)。 |
| 二次離子質(zhì)譜 Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) | 一種用于檢測和分析樣品表面化學(xué)成分的高靈敏度技術(shù)，特別適用于痕量元素的檢測。 |
| X射線光電子能譜 X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS或ESCA) | 一種利用X射線激發(fā)材料表面電子來分析其化學(xué)組成的工具。 |
GB/T 28894-2012 中提到的儀器設(shè)備
| X射線光電子能譜儀 如Thermo Scientific ESCALAB系列 | 用于分析材料表面化學(xué)組成的高分辨率工具，常用于科研和工業(yè)質(zhì)量控制。 |
| 俄歇電子能譜儀 根據(jù)不同應(yīng)用需求定制 | 用于檢測材料表面元素組成的分析設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)等領(lǐng)域。 |
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專題
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