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KS D ISO 15632:2012
微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范

Microbeam analysis－Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

被代替

標準號: KS D ISO 15632:2012
發(fā)布: 2012年
總頁數(shù): 18頁
發(fā)布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS D ISO 15632:2018
當前最新: KS D ISO 15632-2023

被代替標準: KS D ISO 15632:2007

KS D ISO 15632:2012 中可能用到的儀器設(shè)備

激光器氦質(zhì)譜檢漏儀其它光學(xué)測量儀粒子分散性分析儀輻射儀/射線檢測儀半導(dǎo)體專用檢測儀器設(shè)備

專題

x射線能量分析器半導(dǎo)體x射線

KS D ISO 15632:2012相似標準

ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范 DIN ISO 15632 E:2015-05 微光束分析帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范 ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范 DIN ISO 15632 E:2022-03 微光束分析帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范 NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格

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