x射線光電子能譜儀制樣
本專題涉及x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)有94條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子能譜儀制樣涉及到分析化學(xué)、長度和角度測量、無損檢測、電子元器件綜合、光學(xué)和光學(xué)測量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量、核能工程、金屬礦。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子能譜儀制樣涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、光學(xué)測試儀器、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、電子測量與儀器綜合、化學(xué)、綜合測試系統(tǒng)、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、通用核儀器、鐵礦、實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備、光學(xué)計(jì)量儀器、電離輻射計(jì)量。
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
- GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 28892-2024 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應(yīng)樣品區(qū)域的通則
- GB/T 31364-2015 能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
- GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
- GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/T 41073-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報(bào)告的基本要求
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序
- DIN ISO 16129:2020-01 草案 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜 評估 X 射線光電子能譜儀日常性能的程序 (ISO 16129:2018)
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 16129 E:2020 文件草案 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序（ISO 16129:2018） 英文文本
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 15472:2019-09 草案 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
- 11/30230635 DC BS ISO 16129 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜法 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
- BS ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- BS ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 所選儀器性能參數(shù)的描述
- BS ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性度
- BS ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
- BS ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- BS ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能量校準(zhǔn) 修改件1
- ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數(shù)說明
- ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準(zhǔn)
- ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
- ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
- ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- OS GSO ISO 10810:2013 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南
巴林國家計(jì)量局，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 10810:2016 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南
- BH GSO ISO 19830:2017 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- KS D ISO 21270-2020 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準(zhǔn)
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀部分性能參數(shù)說明
- KS D ISO 15470-2020 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 所選儀器性能參數(shù)說明
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- KS D ISO 15472:2003 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜儀.能量刻度的校正
- KS D ISO 19319-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析儀觀察到的樣品面積的測定
海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- GSO ISO 10810:2013 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析說明
- GSO ISO 19830:2016 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM E1015-90 報(bào)告X射線光電子能譜中光譜的方法
- ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM E1217-11 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號樣品面積的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
- ASTM E1217-05 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范
- ASTM E1217-00 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范
- ASTM E902-94(1999) 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E995-16 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E902-05 檢查X射線光電子光譜儀的操作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E1523-97 X射線光電子能譜法中電荷控制和電荷參考技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1523-15 X射線光電子能譜法中電荷控制和電荷參考技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
- SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀
- JB/T 12962.2-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
- JB/T 12962.1-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第1部分：通用技術(shù)
國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 2024-2023 能量色散X射線熒光光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- AS ISO 15470:2006(R2016) 表面化學(xué)分析 X射線光電子光譜法 選定儀器性能參數(shù)的描述
- AS ISO 15470:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數(shù)的描述
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-055:2006 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
國家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG(地質(zhì)) 1006-1990 3080E型X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程
IN-BIS，關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 12737-1988 半導(dǎo)體 X 射線能量光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序
